М.: ВНИИ технической информации, классификации и кодирования, 1987. 104 с. , 20 илл. (Сер. "Метрологическое обеспечение измерений"; Вып. 5/ВНИИКИ).Описаны основные методы измерений магнитных параметров пленок и даны оценки их возможностей по чувствительности и точности. Сформулированы критерии их применения для измерений на пленках из материалов различных классов. Рассмотрены современные виды измерительных установок, основанные на использовании магнитоэлектрического и магнитооптического методов....
М.: ВНИИ технической информации, классификации и кодирования, 1987. 104 с. , 20 илл. (Сер. "Метрологическое обеспечение измерений"; Вып. 5/ВНИИКИ).Описаны основные методы измерений магнитных параметров пленок и даны оценки их возможностей по чувствительности и точности. Сформулированы критерии их применения для измерений на пленках из материалов различных классов. Рассмотрены современные виды измерительных установок, основанные на использовании магнитоэлектрического и магнитооптического методов. Обзор представляет интерес для метрологов и специалистов, занимающихся разработкой пленочных магнитных материалов, их исследованием и созданием измерительной аппаратуры.Введение.Общие сведения о магнитных пленках.Основные методы измерения магнитных характеристик пленок. Магнитоэлектрические установки.Магнитооптические установки. Заключение.Литература. Книга «Состояние и перспективы развития измерений магнитных параметров плёнок: Обзорная информация» авторов В. А. Панов, Червинский М.М., Гаврилов Е.Л. и др. оценена посетителями КнигоГид, и её читательский рейтинг составил 0.00 из 10.
Для бесплатного просмотра предоставляются: аннотация, публикация, отзывы, а также файлы для скачивания.
Рецензии на книгу
Написано 0 рецензий