МАССОВАЯ БИБЛИОТЕКА ИНЖЕНЕРА
ЭЛЕКТРОНИКА
В. С. Сапрыкин, Н. И. Кузнецов,
Н. И. Докучаев, Б. В. Острецов
ИЗМЕРЕНИЕ
ДИНАМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ
ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
МОСКВА «СОВЕТСКОЕ РАДИО» 1979
Б'БК 32. 842
С 119
УДК 621. 382. 82;621. 317. 7
С19 Измерение динамических параметров
интегральных схем/ В. С. Сапрыкин, Н. И. Кузнецов,
Н. И. Докучаев, Б. В. Острецов. — М. : Сов. радио, 1979. — 104 с, ил. — (Массовая библиотека
инженера «Электроника»).
30 к. Систематизированы методы измерения динамических параметров
интегральных схем по основным принципам измерений: временной
развертки, стробоскопическому, интегральному, временной трансформации
и расширения импульсов. Брошюра рассчитана на широкий круг специалистов, связанных
с измерением динамических параметров ИС, а также на
преподавателей и студентов вузов.
„ 30407-023 ББК 32. 842
С 43-79 2403000000 _„
046(01 )-79 6Ф0. 3
РЕДАКЦИОННАЯ КОЛЛЕГИЯ:
В. М. Пролрйко (отву редактор), К. А. Валиев, В. М. *Вальков,
A. А. Васенков, Б. Ф. Высоцкий, В. И. Котиков, И. В. Лебедев,
Э. А. Лукин, В. П. Лукьянов, А.
Ю. Малинин, Ю. Р. Носов,
B. Ф. Садов, В. И. Стафеев, В. Я. Сретенский (зам. отв. редактора),
Ю. Б. Степанов, Г. Г. Татаровская, А. Ф. Трутко, В. Н. Филатов
Редакция литературы по электронной технике
ИБ № 462
ВЛАДИМИР СТЕПАНОВИЧ САПРЫКИН
НИКОЛАЙ ИЛЬИЧ КУЗНЕЦОВ
НИКОЛАЙ ИВАНОВИЧ ДОКУЧАЕВ
БОРИС ВЛАДИМИРОВИЧ ОСТРЕЦОВ
Измерение динамических параметров
интегральных схем
Редактор Л. В. Голованова Художественный редактор А. Н. Алтунин
Технический редактор И. В. Орлова Корректор И. Г. Зыкова
Сдано в набор 16. 08. 78 Подписано в печать 02,01,79 Т-03104
Формат 84X108/зЯ Бумага типографская № 2
Гарнитура литерат. Печать высокая. Объем 5,46 усл. печ. л.
6,26 уч. -нзд. л. Тираж 16 000 экз. Зак. 797 Цена 30 к. Издательство «Советское радио», Москва, Главпочтамт, а/я 693
Московская типография № 10 «Союзполиграфпрома»
Государственного Комитета СССР
по делам издательств, полиграфии и книжной торговли. Москва, М-114, Шлюзовая наб. , 10.
(& Издательство «Советское радио», Г979 т. Предисловие
Известно, что интегральные схемы (ИС),
работающие в наносекундном диапазоне и входящие в состав
радиоэлектронной аппаратуры, характеризуются
динамическими параметрами. Измерение динамических
параметров ИС позволяет оценить их качество и, учитывая
их инерционность, рассчитать временные диаграммы
логических устройств, построенных на ИС. Инерционность ИС при их работе определяется длительностью
переходных процессов включения и выключения диодов
и транзисторов, составляющих схему, величинами
входной и выходной емкостной и индуктивной составляющих
нагрузок, внутренних емкостей, обусловленных
структурой ИС. Например, такие временные параметры, как
время задержки включения и выключения ИС /10з, *013,
объясняются наличием паразитных LC-цепей, а также
процессов накопления и рассасывания неосновных
носителей заряда в базовых областях активных приборов,
составляющих ИС. Если величины данных временных параметров
превысят нормы, установленные в технических условиях на
данную ИС, то это может привести к нарушению
синхронности работы отдельных каскадов
быстродействующей аппаратуры и, в конечном счете, к ненадежной
работе всей аппаратуры.