Copyright ОАО «ЦКБ «БИБКОМ» & ООО «Aгентство Kнига-Cервис»
Московский государственный технический университет
имени Н. Э. Баумана
К. В. Малышев, Е. А. Скороходов, В. М. Башков
НАНОМАТЕРИАЛЫ
ДЛЯ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВ
Часть 1
ПОДГОТОВКА СКАНИРУЮЩЕГО ТУННЕЛЬНОГО МИКРОСКОПА
К ДИАГНОСТИКЕ И МОДИФИКАЦИИ НАНОМАТЕРИАЛОВ
Методические указания к лабораторным работам
по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»
Москва
Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана
2007
Copyright ОАО «ЦКБ «БИБКОМ» & ООО «Aгентство Kнига-Cервис»
УДК 621. 28
ББК 32. 85
М 217
Рецензент В. В. Маркелов
Малышев К. В.
, Скороходов Е. А. , Башков В. М. М 217 Наноматериалы для радиоэлектронных средств. — Ч. 1:
Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагно-
стике и модификации наноматериалов: Методические указания
к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радио-
электронных средств». — М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана,
2007. — 44 с. : ил. В данные методические указания включены лабораторные работы,
посвященные экспериментальным исследованиям с помощью скани-
рующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериа-
лов, перспективных для радиоэлектронных средств.