Читать онлайн «Лазерная масс-спектрометрия»

УДК 543. 51 быковский Ю. А. , Невопи'н В. Н. Лаэерная macc-спектромеТРИR. ! М. : Энерrоатомиздат, 1985. 128 с. , ип. ОПМС8ны физические основы и annapatypHoe обеспечение высоко- . . уаствительноrо и универсапьноrо метода элементноrо анапиза твер- AbIX веществ пазерной масс-спектрометрни. Рассмотрены анапитичес- кие возможности метода при испопьзовании ero в разпичных обпастях Н8УI<И и npoизводства. Для научных и инженерно-технических работников и TexHonoroB, cnециализирующихсЯ в обпасти физики TBepAoro тепа, материаповеде- НИА, разработки и испопьзования современных методов анапиза вещест- ва, а также 'для специапистов, испопьзуЮЩИХ современные методы ана- лиза вещества в 'rеопоrии, медицине, биопоrии, криминалистике и Т. д. Табп. 33. Ип. 63. Бибпиоrр. 141. Хараl<Теристики разрабатываемых и применяемых в настоящее время материалов зависят от содержания в них примесей на уровне менее 10 4 10 6 %, поэтому ос- новными требованиям н, предъяеляемыми к современному методу анапиза вещества, flВnЯЮТСЯ высокая относитепьная н абсопютная чувствитепьность ипи низкие преде- лы обнаружения следОВ эпементов, возможность одновременной реrистрации широ. Koro Kpyra элементов и попу'iеНИА информации о . ХИМИ'iеском cocтaBi! веществ в отиосительно просто м виде и вне зависимости от их физико-химических свойств. Развитие эпементной базы микро- и оптоэпектроники, исследования В обпасти по- 8ерхностных явпений нарАДУ с требованиями высокой чувствитепьности опредепяют необходимость проведения nOKanbHoro и поспойноrо анапиза с высоким разрешен... ем. Наконец, при проведении эnементноrо анапиза твердых веществ важне"шими требованиями АВПЯЮТСЯ высок я npзвил ность попучаемых резупьтатов и их вос- производимость, которые зависят в основном от зпементных дискриминаций КОН- Iрами, которые I<оrда-пибо изобретап человеческий ум" [1]. Последние два десятипетия характери- зовапись крупными достиженияМи в обпасти ионной оптики, зпектроники, вакуум- НОЙ техники и применения новых и ВЫСОКО'iуВСТВительных устройств для реrистра- ции ионных токов. 8се это опредепипо современное состояние масс-спектрометр... .

. ecKOro метода и ero передовую позицию в ряду физических методов исследования и анаЛиза вещества. Возможности macc-спектрометрИ'< коrо метода во MHoroM опредепяются спосо- бом попучения ионов, выбором О:1тимальноrо способа извпечения и формирования ионных ny'iKOB, а также максима, "но возможным соответствием свойств сформиро- BaHHoro в источнике ионноrо пучка ИОННО-ОПТИ'iеским параметрам выбранноrо масс-спектрометра, Масс-спектрометрический метод опредепения спедов злементов с испопьзованием искровоrо и '!!<. а ионов [2, 3], получивший широкое при не . иF. АЛR элёмент, HOr'O анапюа твердыХ веществ, имееt PA"Jt существенных недостатков; оёновной из НИХ мизкая правипыlстьb (r<оэффициент относйтёльноич'уёёТвитеnьности КОЧ) nany'iaeMblX ре,упь)'атов 1100 3000. ;,). С момента появления первых ОПТИ'iЕ!Ских квантовых reHepaTopoB (ОКП на твер- дом тепе с достато'iНОЙ мощностью излучения возник интерес к исследованию воз- можности их использован. . я для получения пазерной ппазмы и созданиЯ на зтой fазс интенсивных источников ИО>iОВ ДЛЯ разнообразных применений и, В частности, _ ... ... . . ", ' 9'''''''''''. . '' ''''''''#'' . ' -'''' ". ... ;. :1... . . ,. . . ,... . . ,... ... ... ... ... ... . .