Читать онлайн «Изучение эффекта Холла в полупроводниках»

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ Белорусский национальный технический университет Кафедра «Техническая физика» ТУ БН й ИЗУЧЕНИЕ ЭФФЕКТА ХОЛЛА ри В ПОЛУПРОВОДНИКАХ о Методические указания к выполнению лабораторной работы з ит по Ре Минск БНТУ 2013  МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ Белорусский национальный технический университет Кафедра «Техническая физика» ТУ БН ИЗУЧЕНИЕ ЭФФЕКТА ХОЛЛА й В ПОЛУПРОВОДНИКАХ ри Методические указания к выполнению лабораторной работы о з ит по Ре Минск БНТУ 2013 1  УДК 621. 315. 416 ББК 22. 37 И 39 Со с та в и те л и: И. А. Хорунжий, А. В. Федотенко ТУ Рецензент Д. С. Доманевский БН й о ри з ит по В методических указаниях рассмотрена теория эффекта Холла, наблюдаемого при проте- Ре кании электрического тока в металлах и полупроводниках, помещенных в магнитное поле. Приведено описание экспериментальной установки для изучения этого эффекта в полупро- водниках и подробно описан порядок проведения измерений. Приведены примеры примене- ния эффекта Холла в технике. © Белорусский национальный технический университет, 2013 2  Цель работы: изучить физические основы и теорию эффекта Холла; экспериментально исследовать зависимость холловской раз- ности потенциалов от силы тока в исследуемом образце полупро- водника и индукции магнитного поля. Приборы и принадлежности: образец исследуемого полупро- водника; стабилизированный источник тока для исследуемого об- ТУ разца полупроводника; универсальный цифровой миллиамперметр для измерения тока в исследуемом образце; универсальный цифро- вой милливольтметр для измерения холловской разности потенциа- лов; электромагнит для создания магнитного поля; стабилизирован- БН ный источник питания электромагнита. Краткие теоретические сведения Эффект Холла Американский физик Эдвин Холл в 1879 году провел экспери- й мент, в котором пропускал постоянный электрический ток I через тонкую пластинку прямоугольной формы, изготовленную из золота, ри и измерял разность потенциалов ∆φ = φА – φС между противолежа- щими точками А и С (рис. 1), расположенными на верхней и ниж- ней гранях в одном и том же поперечном сечении исследуемого о проводника.