АКАДЕМИЯ НАУК ССбР
т
Ордена Ленина
%^ ФИЗИКО-
ТЕХНИЧЕСКИЙ
ИНСТИТУТ
им. А. Ф. Иоффе
Ю. Н. Афанасьев Е. Л. Портной 'препринт 849
С. Ю. Карпов В. Б. Смирницкий
М. Н. Мизеров
КОНЦЕНТРИРУЮЩИЕ ГОЛОГРАФИЧЕСКИЕ
ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕШЕТКИ
АКАДЕМИЯ НАУК СССР
ОРДЕНА ЛЕНИНА ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Ф. ИОФФЕ
849
Ю. Н. Афанасьев, С. Ю. Карпов, М. Н. Мизеров,
Е. Л. Портной, В. Б. Смирницкий
КОНЦЕНТРИРУЮЩИЕ ГОЛОГРАФИЧЕСКИЕ
ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕШЕТКИ
Ленинград
1983
Yu.
N. Afanas'ev, S. Yu. Karpov, M. H. Mieerov, B. L. Portnoy,
V. B. Smirnitskii
CONCENSBATIMG HObOGRAPHIC DIPPRACTIOH GRATIHGS
ABSTRACT
She paper presents the results of theoretical and
experimental studies of concentrating biased holographic diffraction
gratings. On the base of the plane wave approximation with
regard to repeated light distribution on the grating, analytical
expressions for the diffracted naves amplitudes have been
obtained whioh present the main peculiarities of light scattering
by concentrating gratings. A method for production of holographic diffraction
gratings on a monocrystalline semiconductor surface with the given
blaze angle is reported. Diffraotion efficiency of metallised
concentrating gratings produced with this method reaches 94$. The results obtained in the experimental investigation of
diffraotion gratings agree well with the theory developed.
(С) «ТИ. 1983
УДК 535. 421
849
Аннотация
В работе приведены результаты теоретического
и экспериментального исследования концентрирующих
дифракционных решеток пилообразного профиля. На
основе приближения плоских волн, с учетом
многократного рассеяния света на решетке, получены
аналитические выражения для амплитуд дифрагированных
волн, описывающие основные особенности рассеяния
света концентрирующими решетками. Изложена технология получения на поверхности
полупроводникового монокристалла голографических
дифракционных решеток с заданным углом блеска. Дифракционная эффективность металлизированных
концентрирующих дифракционных решеток,
изготовленных с помощью этой технологии достигает - 9456. Результаты, полученные при экспериментальном
исследовании дифракционных решеток, хорошо
согласуются с разработанной теорией. В последние годы наблюдается заметная интенсификация
исследований по созданию новых методик получения дифракционных
решеток и теоретическому описанию их оптических свойств. Это
обусловлено, во-первых, бурным развитием нового научно-технического
направления - интегральной оптики, где дифракционные решетки
используются как для создания активных элементов интегрально-
оптических схем (лазеров с распределенной обратной связью Щ )»
так и для получения различного рода функциональных и пассивных
их элементов [2] , и, во-вторых, необходимостью разработки
миниатюрных спектральных приборов, способных решать задачу
экспрессного анализа оптических сигналов. Примером такого прибора
может послужить устройство для спектрального разуплотнения
каналов волоконно-оптических систеы передачи информации; оно должно
иметь малые габариты и вес и быть сравнительно дешевым.