ФИЗИКА
ПРЕЦИЗИОННЫЙ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ
АНАЛИЗ КРИСТАЛЛОВ
В. Г. ЦИРЕЛЬСОН
Российский химико-технологический университет им. Д. И. Менделеева, Москва
Открытые в 1895 году В. К. Рентгеном X-лучи зани-
мают особое место в истории науки. Волновые свойст-
ACCURATE X-RAY ва, обусловливающие дифракцию на периодических
CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS структурах, высокая проникающая способность, мно-
гообразие механизмов взаимодействия с веществом, а
V.
G. TSIRELSON
также простота регистрации привели к широкому при-
менению рентгеновских лучей в физике, химии, ме-
The method allowing to reconstruct the elec- дицине и технике. Казалось бы, все возможности ис-
tron density and characteristics of the anhar- пользования рентгеновского излучения за минувшее
monic thermal motion in a crystal from the столетие были исчерпаны. Однако развитые в последнее
results of accurate X-ray diffraction measure- десятилетие рентгеновская томография в медицине,
анализ протяженной тонкой структуры рентгеновских
ments is examined. The use of this information спектров поглощения (EXAFS) в химии, поверхностная
in the studies of a chemical bond, as well as a структурно-чувствительная рентгеновская спектро-
mechanism of structural phase transitions is скопия и прецизионный рентгеноструктурный анализ
demonstrated. в физике и химии твердого тела показали, что это не
так. Краткий очерк последнего направления и пред-
ставлен в данной статье.